เข้าสู่ระบบ
หน้าแรก
รายการเครื่องมือวิทยาศาสตร์
ข้อมูลเครื่องมือวิทยาศาสตร์
ชื่อเครื่องมือ :
การตัดตัวอย่างด้วยเครื่องตัดความละเอียดสูงระดับไมครอน การทำให้ตัวอย่างบางน้อยกว่า 100 ไมครอน การทำให้ตัวอย่างมีขนาดเหมาะสมสำหรับ TEM Holder สำหรับการวิเคราะห์ด้วยเทคนิคจุลทรรศนศาสตร์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (ไม่รวมการเตรียมเพื่อทำให้ตัวอย่างบางระดับนาโนเมตร)
รายละเอียด :
การทำให้ตัวอย่างบางน้อยกว่า 100 ไมครอน การทำให้ตัวอย่างมีขนาดเหมาะสม สำหรับ TEM Holder สำหรับการวิเคราะห์ด้วยเทคนิคจุลทรรศนศาสตร์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน ทั้งนี้ไม่รวมการเตรียมเพื่อทำให้ตัวอย่างบางระดับนาโนเมตร
สถานะ :
พร้อมใช้งาน
ราคา
ค่าธรรมเนียมต่อ 1 ตัวอย่าง (บาท)
ประเภท ก
ประเภท ข
ประเภท ค
ประเภท ง
1000
1000
1000
1000
ตารางการใช้งาน